技术开发服务
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Measurement
  • 2018年建成400平米超净实验室,主要支持晶圆级先进器件测试
  • 300mm半自动探针台,可搭载单颗Die至12寸晶圆,并且支持full mapping测试方式
  • DC/CV测试平台支持Diode、Resistor、BJT、MOS等各类器件电路的常规电学参数测试
  • ALFNA 先进低频噪声分析测试系统可实现FET、BJT、Diode、Resistor、电路的完整的噪声测量及直流特性表征
  • 覆盖10MHz~110GHz的射频测试平台,可支持各类RF器件电路的S参数,噪声系数,频谱,功率,负载牵引等测试要求
  • 探针台覆盖-55℃~+300℃的测试环境,可提供成套DC/CV及RF精确模型测试支持
  • 共享ICISC电路测试验证实验室,涵盖各类精密源表,信号源,示波器,频谱仪,网络分析仪,逻辑分析仪等,可供客户灵活地选择应用和拓展测试需求
  • 实验室平台为产品研发、设计验证、生产确认以及客户个性化量测提供优质的服务

 

 

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